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思瑞測量CROMA PLUS亮相本次技術(shù)論壇，因其解決曲面檢測難題的技術(shù)特性成為現(xiàn)場關(guān)注焦點(diǎn)，吸引眾多來賓咨詢了解。
參會嘉賓們紛紛表示這次交流會讓日常工作中很多的疑問得到了解惑，希望思瑞測量后期繼續(xù)多舉辦此類的交流會。
現(xiàn)場不僅有測量行業(yè)未來發(fā)展的深度解析，還帶來面向市場熱點(diǎn)的最新影像儀、三坐標(biāo)的案例分享。
思瑞攜多款產(chǎn)品及方案亮相本次展會，對外展示思瑞在三坐標(biāo)測量儀等高精密測量領(lǐng)域深耕、創(chuàng)新的成果。
思瑞測量蓄勢待發(fā)，將攜多種創(chuàng)新測量解決方案亮相展會現(xiàn)場，與大家共同探討智慧制造的未來。
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