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思瑞CROMA PLUS掃描型三坐標測量機,復雜曲面零部件檢測之選!

發表時間:2023-12-15 09:12:20 作者:三坐標 來源:fswangli.com 瀏覽:739

思瑞掃描型三坐標測量機 CROMA PLUS,一款專為復雜曲面檢測而匠心設計的檢測設備,搭載高精度掃描控制系統,采用連續掃描技術,實現高速、高精度采樣,動態性能好,可擴展多種傳感器,被廣泛應用于各項復雜曲面的高精度檢測任務。


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CROMA PLUS三坐標測量機利用 DCC Scanning 掃描模塊配合X1掃描測頭,可解決具有曲線、曲面等復雜型面零件的檢測和逆向要求。同時X 1掃描測頭也應用在我們集團的高精度萊茲三坐標上。

 

再采用不同的掃描模式,例如開線掃描、閉線掃描和自由掃描等,可輕松完成數據采集或與CAD數模比對。


獨特的飛行模式減少了運動中的停頓和拐角,從而確保了測量機的工作效率及運行的穩定性。


高硬件配置的CROMA PLUS三坐標測量機搭載業界標桿測量軟件PC-DMIS或Rational DMIS,全球裝機量超過100,000套,以其直觀、強大、便捷等特點得到CMM業內專家的高度評價,為客戶提供更加智能的測量方案,為企業提供更加貼近客戶需求的服務。

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思瑞以集團化的全球供應商平臺和標準工藝流程,共同保證CROMA PLUS三坐標測量機的每一個細節,讓測量機被廣泛應用于汽車、電子、軍工、航空航天等領域。



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