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思瑞全自動瑕疵檢測方案,手機SIM卡托測量利器

發(fā)表時間:2021-07-13 11:07:00 作者:思瑞瑕疵檢測 來源:fswangli.com 瀏覽:

提到SIM卡托,很多用戶心中所想的無非就是一個可以固定1張或2張SIM卡,并將其插入手機中的卡片。實際上,就是這么一張小小的卡片,其背后的加工設(shè)計也隱藏著不少門道呢。為了保證手機SIM卡托的外觀質(zhì)量,在加工完成后需要高精度測量設(shè)備進(jìn)行瑕疵檢測。

 

生產(chǎn)過程中,受到加工工藝的影響,SIM卡托會呈現(xiàn)多種形態(tài)的缺陷,看似“毫不起眼”的表面瑕疵及“微乎其微”的次品率,卻成為企業(yè)難以提高良率的瓶頸,并且在經(jīng)過完整制程后再剔除次品成本會高很多;當(dāng)成為商品,落入消費者口袋后,將影響產(chǎn)品的使用性能及外觀質(zhì)量。

 

思瑞測量采用獨立自主研發(fā)的技術(shù)成果,推出了手機SIM卡托瑕疵檢測設(shè)備。可以在兩秒內(nèi)完成單個手機SIM卡托瑕疵測量,每小時高達(dá)1800片,幾十種瑕疵“一機搞定”。

 思瑞全自動瑕疵檢測方案,手機SIM卡托測量利器(圖1)


01 全自動測量

工件上下料均采用四軸機械手,機械手移動范圍高達(dá)600mm,搭配6個零件夾爪、托盤吸盤及在抓取部件和抓取托盤之間切換的開關(guān)缸。下料機械手X、Y、R軸均可±360o旋轉(zhuǎn),實現(xiàn)更大程度利用下料單元的空間進(jìn)行分bin,包括NG料區(qū)、OK料區(qū)和空托盤區(qū)。有效實現(xiàn)全自動測量,改善因人工作業(yè)造成的漏檢、誤檢損失。

 

02 多種組合光源呈現(xiàn)不同的瑕疵

通過對無數(shù)個不同瑕疵在不同光源和角度下大量反復(fù)的光學(xué)實驗和論證,優(yōu)化組合光源的照明方法及檢測光路配置,最終探索出不同的光源及7個攝像頭的位置,表面微小及低對比度瑕疵也能很好的呈現(xiàn),保證后續(xù)檢測系統(tǒng)高效、準(zhǔn)確拍攝出清晰度更好的瑕疵圖像,一次檢測位置為T面,內(nèi)框面,R角,側(cè)面,底面等8個面。

思瑞全自動瑕疵檢測方案,手機SIM卡托測量利器(圖2)


03 多種瑕疵的好精度檢測挑戰(zhàn)

手機SIM卡托瑕疵檢測設(shè)備能有效對生產(chǎn)工藝中容易產(chǎn)生的碰傷、刀紋、異色、變形、料線、白點、擦傷、掉膜、混料、掉砂、腐蝕、鐳雕多雕、鐳雕發(fā)黑、劃傷、未鐳雕、T面刀紋、內(nèi)圈刀紋等多種瑕疵類型進(jìn)行像素識別和解析,輕松識別瑕疵特征。

 

 

思瑞全自動瑕疵檢測方案,手機SIM卡托測量利器(圖3)


04 深度學(xué)習(xí),適應(yīng)不同瑕疵

海克斯康自主研發(fā)深度學(xué)習(xí)視覺瑕疵檢測軟件Proxima,通過前期采集大量數(shù)據(jù),對產(chǎn)品各類瑕疵及異常點識別算法和模型進(jìn)行學(xué)習(xí)和訓(xùn)練基本質(zhì)檢技能,在檢測時可以快速的識別出缺陷,進(jìn)一步提升準(zhǔn)確率、豐富檢驗種類,適應(yīng)新的業(yè)務(wù)需求。

 

手機SIM卡托瑕疵檢測設(shè)備多方位多類型高效全自動對SIM卡托進(jìn)行瑕疵檢測,精準(zhǔn)把控產(chǎn)品質(zhì)量,完成客戶需求!一方面為企業(yè)有效解決了質(zhì)檢環(huán)節(jié)的實際問題,產(chǎn)品漏檢率大幅降低的同時預(yù)計節(jié)約人員投入成本,帶來了效益的顯著提升。另一方面,助力企業(yè)全面提升質(zhì)檢環(huán)節(jié)的自動化、數(shù)字化和智能化水平。

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