在運(yùn)用自動(dòng)化測(cè)量方案之前,傳統(tǒng)電極檢測(cè)步驟繁瑣:首先進(jìn)行毛坯加工、測(cè)量電極幾何尺寸、合格的電極傳送至電火花加工中心、最后進(jìn)行找正補(bǔ)償。
影響三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)量誤差有兩個(gè)方面:非測(cè)量機(jī)的影響和測(cè)量機(jī)的影響。 1、非測(cè)量機(jī)的影響: 環(huán)境條件:溫度、濕度、震動(dòng)等。 工作和操作:工件的固定、表面、硬度、接觸力、測(cè)量工藝等。 測(cè)量任務(wù)的定義:技術(shù)圖紙 2、測(cè)量機(jī)的影響: 坐標(biāo)系(靜態(tài))——位
一款集自動(dòng)上下料系統(tǒng),多個(gè)激光、CCD 和鏡頭等多傳感器于一體的測(cè)量設(shè)備。
側(cè)孔打標(biāo)快速檢測(cè)方案是一款專門針對(duì)手機(jī)殼體、中框研發(fā)的快速檢測(cè)儀,不僅可以檢測(cè)尺寸,還可以對(duì)指定尺寸分類,
測(cè)針校正后的“校正直徑”小于名義值,不會(huì)影響三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)量精度。相反,還會(huì)對(duì)觸測(cè)的延時(shí)和測(cè)針的變形起到補(bǔ)償?shù)淖饔?,因?yàn)槲覀冊(cè)谌鴺?biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)量過(guò)程中測(cè)量軟件對(duì)測(cè)針寶石球半徑的修正(把測(cè)針寶石球中心點(diǎn)的坐標(biāo)換算到觸測(cè)點(diǎn)的坐標(biāo)),使用的是“校正直徑”而不是名義直徑。在進(jìn)行三坐標(biāo)測(cè)